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专利名称：基于X射线荧光快速检测大米中重金属镉的方法专利类型：发明专利发明人：彭新凯,蒋健晖申请号：CN201310683956.1申请日：20131213公开号：CN1035201A公开日：20140319
摘要：本发明涉及重金属镉的检测技术领域，公开了一种基于X射线荧光快速检测大米中重金属镉的方法，包括：步骤S1，样品的前处理，将大米样品打碎并过筛，将过筛后的大米粉碎样品进行富集碳化处理，同时记录富集碳化处理前后的样品质量；步骤S2，测试样品的制备，将富集碳化处理后的黑色富集物置于样品杯中并压平整；步骤S3，样品的测试，采用手持式X射线荧光光谱仪测试样品，并在仪器的软件界面中输入步骤S1中所记录的录富集碳化处理前后的样品质量；步骤S4，手持式X射线荧光光谱仪显示大米样品中重金属镉的含量。本发明采用手持式X射线荧光光谱仪来快速检测大米中重金属镉的含量，具有检测灵敏度高、特异性高、简单快速和安全可靠等优点。
申请人：彭新凯,蒋健晖
地址：410013 湖南沙市岳麓区银双路318号长沙市质量技术监督局
国籍：CN
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