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专利名称：一种导电滑环的寿命测试系统专利类型：实用新型专利发明人：张向阳,李晓博申请号：CN201720506572.6申请日：20170509公开号：CN206740857U公开日：20171212
摘要：本实用新型属提供了一种导电滑环的寿命测试系统，包括依次电连接的输入/输出单元、大规模继电器矩阵阵列、控制单元、多路信号处理/输入单元、计数单元、实时数据保存单元，所述控制单元电连接静/动态电阻测试电路和电机，所述电机输出端连接输入/输出单元，所述电机角度及转速由控制单元控制，所述控制单元连接供电系统。本实用新型提供的这种导电滑环的寿命测试系统，可以实现导电滑环的导通、静/动态电阻、绝缘、耐压、摩擦力矩、寿命测试，具有测试速度快、测试精度高、系统配置灵活、易于操作的优点和良好的人机界面。
申请人：西安谷德电子科技有限公司
地址：710000 陕西省西安市唐延南路逸翠园i都会4-1-1010
国籍：CN
代理机构：西安吉盛专利代理有限责任公司
代理人：何锐
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